ESS hősokk-kamra – az Ön termékeinek terhelési határai

A hősokk vizsgálatokkal azt határozzák meg, hogy a vizsgált termék hirtelen hőmérsékletváltozás után a vele szemben támasztott követelményeket tartósan teljesíti-e és biztonsággal működtethető-e.

Hősokk tesztkamra, Weiss, Amtest

A vizsgálat másik célja a korai meghibásodások kikényszerítése anélkül, hogy a szerkezet mechanikai és termikus igénybevételi határait elérnénk.

Miért van szükség hősokk-teszt vizsgálatokra?

A környezeti körülmények nagyban befolyásolják az elektronikus alkatrészek, készülékek és berendezések működőképességét és megbízhatóságát. Nemzetközi szabványok és vizsgálati előírások határozzák meg a szokásos alkalmazásokra vonatkozó vizsgálatok menetét.

(ESS = Environmental Stress Screening) vizsgálati eljárással a gyártási hibák már korai szakaszban felfedezhetők.

A néhány száz – ezer hőmérsékleti ciklussal elvégzett teszt után a vizsgált mintadarabok várható élettartama előre jelezhető.

A vizsgálati berendezés két (három), egymás felett elhelyezett kamrából – egy meleg és egy hideg (szobahőmérsékletű) kamrából áll, amelyek hőmérséklete egymástól függetlenül szabályozható. Egy lift, amelybe a vizsgálandó mintadarabokat kell elhelyezni, néhány másodperc alatt szállítja a mintadarabot a meleg és a hideg kamra között. Így a vizsgálandó mintadarabok sokkoló hatású hőmérsékleti változásnak vannak kitéve.

A hőmérsékletszintek és a ciklusok száma határozza meg a súlyossági szintet.

A vizsgálat részleteit szabványos adatok sora határozza meg

  • A meleg hőkamra hőmérséklete 

  • (A szobahőmérsékletű kamra hőmérséklete)
  • A hideg hőkamra hőmérséklete 


  • Tartózkodási idő a meleg klímakamrában

  • (Tartózkodási idő a szobahőmérsékletű kamrában)
  • Tartózkodási idő a hideg hőkamrában 


  • Az áthelyezés időtartama 


  • A mérési ciklusok száma

Rejtett minőségi hibák biztos megtalálása

Elektronikus alkatrészek élettartamgörbéje 


Elektronikus alkatrészek élettartamgörbéje 

Az ESS a használat közben fellépő hibákat eltolja a gyártási időszakba. F = hiba / t = idő
/ 1 = korai meghibásodások / 2 = felhasználási fázis / 3 = elhasználódási fázis